1. CMOS Test and Evaluation
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : INSTRUMENTATION& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS|ENGINEERING, ELECTRICAL &AUTOMATION
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
2. CMOS test and evaluation :
پدیدآورنده : Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Electronics.,Engineering.,System safety.,Systems engineering.,Circuits and Systems.,Electronics and Microelectronics, Instrumentation.,Quality Control, Reliability, Safety and Risk.,Semiconductors.
رده :
TK7874
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : INSTRUMENTATION& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|INSTRUMENTS &ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
4. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen (auth.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : ENGINEERING (uncategorised)
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
5. Microelectronic test structures for CMOS technolog
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
6. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK
,
7871
.
99
,.
M44
,
B49
,
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
7. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : Bhushan, Manjul.,Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع :
![](/design/images/bookmore.png)
8. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)